Микроскоп предназначен для исследования объектов в проходящем и отраженном свете при освещении по методу светлого и темного поля.На микроскопе можно изучать окрашенные и не окрашенные прозрачные препараты в виде мазков, гистологических срезов на предметных стеклах и в специальных камерах, а также непрозрачные объекты
Технические характеристики
ПОЗИЦИЯ | ПАРАМЕТР |
Методы исследования | Проходящий и отраженный свет при освещении по методу светлого и темного поля |
Увеличение, крат | 100-1000 |
Насадка
увеличение, крат угол наклона окулярных тубусов, градусов диапазон диоптрийной подвижки, дптр |
Тринокулярная
1,0 30 ±5 |
Револьвер | Пятигнездный, наклонен к штативу |
Объективы – планахроматы на оптическую длину тубус бесконечность |
Plan 10x/0,25 ∞/- (эпи)для светлого и темного поля |
Plan 40x/0,60 ∞/0 (эпи)для светлого и темного поля | |
Plan 40x/0,65 ∞/0,17 | |
Plan 50x/0,75 ∞/0 (эпи)для светлого и темного поля | |
Plan 100x/1,25 ∞/0,17 oil
Plan 10ox/0,80 ∞/0 |
|
Окуляры широкопольные | 10х/22 |
Предметный столик | С координатным перемещением
Диапазон перемещения 74х50 мм |
Конденсор | Конденсор светлого поля с ирисовой диафрагмой А=0,9/0,25
Конденсор темного поля А= 1,36 -1,25м.и. |
Устройство фазового контраста | для проходящего света |
Поляризационное устройство | для отраженного света |
Осветительная система
Источник света (лампа галогенная) |
По Келлеру
Галогенная лампа накаливания 24В100Вт |
Габаритные размеры, см
Масса, кг |
Габаритные размеры, см
20 |